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半導體產業

研華設備檢測
良率升級解決方案

根據工研院調查，有22.6%製造業廠商因疫情刺激需求，導致訂單增加，預估2021年資訊電子業產值將成長11.49%。
然而，有40%廠商認為異地分流致產能調配不易，且又過有半數(50.2%)的製造業者擔憂發生交貨延長！
面對搶攻市占的關鍵時刻，您的工廠正面臨
訂單需求急增、產能不足以應付的情況嗎？
交期只能拉長，又擔心被搶單？

研華設備檢測良率升級解決方案，透過監測工廠精密設備運轉參數、產品品質檢測，達到及早預知設備保養需求、避免生產不良品，更能夠有效降低人工監測的風險因素，實現提升工廠良率！

設備檢測良率升級解決方案

研華設備檢測良率升級方案

設備檢測良率升級解決方案
設備狀態監測

透過物聯網設備和製造流程監測，有效提升您的機器產能效率、品質管理能力以及工廠安全。

設備檢測良率升級解決方案
多功能數據採集接點

支援多種 I/O 接點，方便您從感測器儀表和各式設備攫取數據

設備檢測良率升級解決方案
管理遠端和分佈站

能夠在中央管理系統中為遠端據點的設備使用客製化標籤命名，建立完整的感知網路系統

設備檢測良率升級解決方案
適用於所有有線和無線條件

支持多種有線和無線接口和協議，可以讓您在不同物聯網環境中靈活使用

設備檢測良率升級解決方案
經過現場驗證的多種應用

多種實際案例滿足半導體產業不同應用要求

設備檢測良率升級解決方案
軟硬整合

支持多種有線和無線接口和協議，可以讓您在不同物聯網環境中靈活使用

半導體產業
應用案例

CVD/PVD 遠端 I/O
設備監控
CbM 狀態監測維護
一般工廠應用案例
設備檢測良率升級解決方案
研華智能壓縮/潔淨乾燥空氣(CDA)
系統狀態檢測解決方案
  • 在競爭激烈的半導體產業，高產量和最大化效率意味著一切。因此一個具備高可靠性的遠端設備監控無線技術可能就是個合適的加工助劑。壓縮/潔淨乾燥空氣(CDA)在晶圓廠中用於驅動製造生產設備的氣動元件、控制閥功能或清潔材料/設備。為了使製造過程順利進行，CDA 系統必須由設備維護部門進行監控。
台灣

案例使用產品

智慧振動
感應器

WISE-2410-TW

設備檢測良率升級解決方案
內置三軸加速度計和溫度感應器
電池供電，無需佈線
寬溫設計 -20 ~ 85 °C
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WISE-2410-TW

室外 LoRa
無線感應器模組

WISE-4610-TW

設備檢測良率升級解決方案
干擾小於 2.4GHz 頻譜
IP65機殼，可應用於I/O組合
由太陽能充電電池或 10~50V 直流輸入供電
其他相似產品▼

WISE-4210-NA

WISE-4471-UA

智能5G
路由暨邊緣計算器

ICR-4453

設備檢測良率升級解決方案
可選雙頻 Wi-Fi
5x千兆以太網 RJ45 連接
寬溫設計-40 ~75 °C
其他相似產品▼

ICR-3231

ICR-1601G

ICR-1601W

設備檢測良率升級解決方案
研華半導體機器設備製造的
進階遠距I/O應用方案
  • 半導體產業擁有完善的製造流程，從IC設計、晶圓製造，到面板組裝和測試。在這些製造過程中許多都配備了自動化的機械和機器人。例如，機器人被設計用來將晶圓移動至不同生產線以提升生產良率。另外，像是物理氣相沈積(PVD)和化學氣相沈積(CVD)機器經常被用於形成晶圓上的薄膜。為了提高PVD/CVD機器的效率，這些設備需要能夠被有效測量電流量和其他關鍵參數。

  • 這些專案需要進階數據擷取能力以取得機器人和PVD/CVD機器的數據。研華遠距I/O解決方案可以有效攫取這些機器的關鍵參數並同時傳輸數據到伺服器端以進行機器效率管理。
台灣

案例使用產品

非網管型工業
乙太網路交換器

EKI-2528-BE

設備檢測良率升級解決方案
支援 12 ~ 48 VDC 備援電源輸入和 P-Fail 繼電器警報
支援-10 ~ 60°C 寬溫範圍
超薄緊湊型，支持導軌式/壁掛式安裝
其他相似產品▼

EKI-2525-BE

EKI-2728-CE

EKI-2525LI-AE

隔離式類比輸入
Modbus TCP 模組

ADAM-6217-B

設備檢測良率升級解決方案
多個模組設置具備群組配置功能
靈活的使用者定義 Modbus 位址
點對點及 GCL 功能的智慧控制
其他相似產品▼

ADAM-6017-D

ADAM-6018+-D

ADAM-6015-DE

獨立數位I/O
Modbus TCP模組

ADAM-6250-B

設備檢測良率升級解決方案
具有自動旁路保護的菊花鏈連接
可使用行動裝置進行遠端監控
透過點對點和GCL功能進行智能控制
其他相似產品▼

ADAM-6050-D

ADAM-6251-B

ADAM-6060-D

下載全部案例
專人諮詢：
林小姐(Jenny)

半導體工廠設備
自我檢驗

在競爭激烈的半導體產業，高產量和最大化效率往往是廠商競爭的關鍵， 因此保持工廠製造設備的持續運作以及高精密度便是建立競爭優勢的勝出點。
您的工廠半導體製造流程夠有效率嗎？
快速做個自我檢驗，看看製程上還有哪裡可以優化吧！

輸入姓名

輸入電話

輸入信箱

輸入公司

開始檢測
您的半導體製造過程中有以下哪些問題嗎？

單位人力一次需要顧多台設備
工作量大

設備突然異常
導致停機發生

3D 測試儀需要外圍設備
幫助精確位置

3D 設備需要高精度的
視覺檢測系統

您的半導體工廠環境有以下哪些問題嗎？

工廠空間有限
機器周圍安裝空間有限

設備數據
有安全政策需求

3D 設備 I/O接口眾多
希望外接裝置能夠隨插即用

您希望將設備檢測應用在哪？

CVD/PVD/robots 設備

CDA設備

洗滌器系統

晶圓探偵測試儀

CMP製程

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研華遠端I/O設備監控解決方案
透過遠距I/O模組和轉換器獲取數據並將其傳輸到VM伺服器進行數據分析
提高 ✔️管理能力 ✔️機器效率 ✔️穩定性 ✔️可擴展性。
✔️客製化系統服務可以滿足多元的專案需求。

設備檢測良率升級解決方案

專人洽詢

重新檢測

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研華智能壓縮/潔淨乾燥空氣(CDA)
系統狀態檢測解決方案
LoRaWAN遠端無線設備監控，提供簡易、可靠和具有成本效益的的私人網域環境。

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重新檢測

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研華智能洗滌器系統狀態監測解決方案
WISE-24100震動傳感器及其 WISE-S617 靈活的 I/O，支持 3 軸振動檢測
再加上IP66等級和寬溫設計可以克服洗滌器泵所在的惡劣環境。

設備檢測良率升級解決方案

專人洽詢

重新檢測

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研華IC 晶圓探針和測試儀機器
自動化解決方案
DAQ系列軟件開發套件DAQNavi滿足客戶構建數據採集(DAQ)和控制/測試系統的需要
真正滿足客戶的需求。

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研華半導體前端製造光學檢測解決方案
VisionNavi軟體藉由完整的CMP系統，能夠快速運行，並具有高度準確的在線檢測。
由於有許多不同種類的晶片和缺陷類型，客戶也希望可以減少安裝/維護的工作。

設備檢測良率升級解決方案

專人洽詢

重新檢測

透過進階 AI 設備監測，精準辨識細微不良品
讓您的工廠良率再升級！

AI的動態影像檢測應用
設備預防監測提升您的產能與良率，AI動態影像檢測讓您的良率再上一層樓！雖現有AOI技術可大幅提升良率，但仍需人員去做判別， 以確保提供給顧客的皆是最佳產品，不但費時費力也無法完全抓出瑕疵...透過AI利用NG資料搜集並建立正確模型，可顯著提升良率、降低人事成本

AI人工智能
邊緣模組

MIC-710-AIX

設備檢測良率升級解決方案
NVIDIA Jetson Xavier
NVIDIA Jetson Xavier
無風扇且迷你的設計
支援深度學習訓練模組

無風扇
模組化電腦

MIC-770W-20A1

設備檢測良率升級解決方案
Intel® 10th Gen Xeon®/Core™ i CPU 插槽式 (LGA1200) 與 Intel® W480E/H420E 芯片組
支持FlexIO和iDoor技術
寬溫設計-10 ~ 60 °C

AI 動態影像
邊緣運算GPU伺服器

MIC-75G20-00A2

設備檢測良率升級解決方案
雙 24VDC 電源輸入，可提供高達 480W 的最大峰值功率電流
帶風扇過濾器、IP30 防護等級，適用於戶外或工業環境
可壁掛式或桌架式，適合部署在任何工業環境
導入評估

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半導體前端製造
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